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牛津仪器公司联合苏州地区用户研讨会圆满落幕

来源:PCB资源网 作者:pcb资源网 发布时间:2008-05-22 发表评论
2008年5月15日,牛津仪器公司联合苏州电镀协会在苏州环保产业园举行了苏州地区用户研讨会,主题是如何运用X荧光分析仪器进行镀层厚度的精确检测及有害元素分析。此次研讨会是牛津仪器08年度首个用户研讨会。

会上,牛津仪器公司华东区销售经理何日华向大家详细介绍了如何运用X荧光分析仪器进行镀层厚度的精确检测及有害元素分析的相关原理及实际操作案例。

电路设计请联系:020-89811835


此次会议还邀请到了第三方检测机构Intetek的专家,为大家分析了目前世界上各国RoHS指令的执行现状。

会后,牛津仪器以及Intertek的专家还与大家进行了一系列的交流和互动。

牛津仪器工业分析部将在其产品所涉及的各个行业陆续举办用户研讨会,旨在更深入了解用户的需求,以便提供我们更为专业和完善的服务体系。

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